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電(diàn)脑键盘按键寿命试验机

電(diàn)脑键盘按键寿命试验机

简要描述:TX-5015 電(diàn)脑键盘按键寿命试验机
本机可(kě)測試筆記本電腦、掌上電腦等的按鍵和其他(tā)各種按鈕、開關的耐久壽命。。

产品型号: TX-5015

所属分(fēn)类:電(diàn)脑键盘按键寿命试验机

更新(xīn)时间:2024-02-28

详细说明:

TX-5015  電(diàn)脑键盘按键寿命试验机

  電(diàn)脑键盘按键寿命试验机可(kě)測試筆記本電腦、掌上電腦等的按鍵和其他(tā)各種按鈕、開關的耐久壽命。
能(néng)同時測試數個産品(每個産品均可(kě)多(duō)點測試),另每個按鍵可(kě)設定不同壓力及不同高低的按壓力。
技術規格


動作行程

10mm(固定)

工件高低調整範圍

100mm

夾具夾持能(néng)力

400×300mm

測頭安裝範圍

350×250mm

試驗次數

999999×10

試驗速度

60-300Rpm

荷重範圍

50-450g100-1000g

測頭高低調整

15mm

兩支測頭小(xiǎo)間隔

X方向10mm,Y方向20mm

外觀尺寸

526×426×970mm

重量

110kg

電壓

AC 220V

键盘按键寿命试验机    按键寿命试验机   電(diàn)脑转轴试验机























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